鉭電容的常用的電容器其精度等級和電阻器的表示方法相同。鉭電容的測驗，高壓陶瓷電容在模擬作業環境狀態下運作30~60天，測驗其衰減其各項參數的改變；耐壓實驗，包含額外作業電壓24小時作業測驗；也包含擊穿耐壓，即破壞性測驗，電容被擊穿前的那一個臨界電壓就是擊穿電壓。局放測驗，即部分放電測驗；壽數測驗，即在老化測驗的基礎上，再對電容進行高頻沖電流下快速充放電測驗，得到的充放電次數就是充放電壽數，留心，這個壽數的得出是在長時間的老化之后得出的。avx鉭電容的電參數隨電場頻率而改變的性質。在高頻前提下作業的電容器，因為介電常數在高頻時比低頻時小，電容量也相應減小。在電場的效果下，電容器在單位時間內發燒而消耗的能量。這些損耗首要來自介質損耗和金屬損耗。通常用損耗角正切值來表示。

鉭電(dian)容(rong)(rong)的(de)運(yun)用越來(lai)越多的(de)電(dian)子設備以便處(chu)理(li)空間受限標題，并消(xiao)除互連電(dian)纜(lan)形成的(de)重量。運(yun)器具有(you)較少線(xian)纜(lan)并且在(zai)任何(he)功課前提下都可靠的(de)通訊(xun)總(zong)線(xian)是一種明晰明晰的(de)方案。圖給出了(le)TRJ電(dian)容(rong)(rong)在(zai)總(zong)線(xian)驅動器中(zhong)的(de)運(yun)用狀況(kuang)，由于可以極好地支(zhi)撐發送(song)放(fang)大器，TRJ電(dian)容(rong)(rong)能(neng)加快數(shu)字響應速度。

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